магнитно-силовая микроскопия

В ходе сканирования поверхности с помощью квантового вихря можно визуализировать несовершенства структуры в толще материала, получив разрешение на порядок выше возможностей классической магнитной силовой микроскопии. Способность метода находить неразличимые дефекты задает новые стандарты в контроле качества сверхпроводников и сверхпроводящих приборов.

Открытие может быть востребовано в сверхпроводящих устройствах квантовой электроники, в будущих квантовых процессорах.